Descripción
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Galardonada con el Early Career Metrologist Award como representante de la región CAMET del Sistema Interamericano de Metrología (SIM). Reconocimiento otorgado por el SIM y NCSLI. Presentación realizada el 28 de julio de 2026 en Kansas City (Missouri, Estados Unidos).
Título de la ponencia: Advances in automation for detecting the centerline of a marked length measurement.
Fecha: 25 al 29 de julio de 2026.
Enlace en la página del SIM: https://sim-metrologia.org/2026/08/02/ncsli-sim-early-career-metrologist-award-2026/.
Enlace en la página del NCSLI: https://ncsli.org/mpage/WS_2026.